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Characterization of impurities in silicon by IR spectroscopy
1989-01-01 A., Borghesi; Geddo, Mario; Guizzetti, Giorgio; A., Stella; P., Geranzani
Magnetic Correlations and Antiferromagnetic Order in La2-xSrxCuO4
1989-01-01 Borsa, Ferdinando; Corti, MAURIZIO ENRICO; Rega, T; Rigamonti, Attilio; Ziolo, J.
Spectroscopic ellipsometry of FeSi films
1993-01-01 Patrini, Maddalena; Marabelli, Franco; N., Onda; H., VON KÄNEL
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Characterization of impurities in silicon by IR spectroscopy | 1-gen-1989 | A., Borghesi; Geddo, Mario; Guizzetti, Giorgio; A., Stella; P., Geranzani | |
Magnetic Correlations and Antiferromagnetic Order in La2-xSrxCuO4 | 1-gen-1989 | Borsa, Ferdinando; Corti, MAURIZIO ENRICO; Rega, T; Rigamonti, Attilio; Ziolo, J. | |
Spectroscopic ellipsometry of FeSi films | 1-gen-1993 | Patrini, Maddalena; Marabelli, Franco; N., Onda; H., VON KÄNEL |
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